logo
Главная страница ПродукцияИспытайте зонд перста

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Китай Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited Сертификаты
Китай Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited Сертификаты
Эссайс доигц д лес Дже виенс де ресевоир, сатисфайт трèс суйс Дже, трèс к ест биен

—— Образование ЭСТИ

Дорогая Алиса, Машины работают хорошо теперь. Спасибо для ваших поддержки и терпения разрешить наши проблемы и дать нам очень полезные предложения в переговорах. Действительно хорошее сотрудничество.

—— ТУВ Рхайньланд Пвт. Лтд

Дорогое Пенни, Мы действительно оцениваем к покупке от группы Пего на несколько лет, все продукты приходим с деятельностью амд хорошего качества легкой.

—— Ограничиваемые лаборатории ЛИА

Я получал молотки весны, они большой!

—— Группа БСХ

Да мы получили зонды и наши инженеры как они. Спасибо.

—— Пты Лтд освещения гаммы

молоток весны выглядит хорошим и работает нормально

—— Взаимодействие сигмы

Это подтвердить заказ хорошо получено и все в хорошем заказе. Могу я возблагодарить вас для вашей очень профессиональной услуги. Это приятная сделка.

—— Группа Галлагхэр

절연강도 시험기 잘 받았습니다. 빠른 배송에 감사드리며 차후 또 다른 제품구입시 연락드리겠습니다.

—— 유진코퍼레이션에 황동익입니다.

Я отправляю эту электронную почту для того чтобы позволить вам знать что мы получаем 2 сосуда с поверочным сертификатом. Я хотел был бы возблагодарить вас для качества сосудов и для вашей хорошей работы. Я не могу ждать для работы с вами на других темах.

—— Brandt Франция

мы можем подтвердить, что он работает очень хорошо! спасибо за качественное оборудование.

—— ППК (Греция)

Оставьте нам сообщение

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Большие изображения :  Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing

Подробная информация о продукте:
Место происхождения: КИТАЙ
Фирменное наименование: Pego Electronics
Сертификация: Third-Lab Calibration Certificate
Номер модели: PG-TPB
Оплата и доставка Условия:
Количество мин заказа: 1 набор
Цена: лично переговорить
Упаковывая детали: защитный чехол + картон
Время доставки: 3 рабочих дня
Условия оплаты: T/T, PayPal
Поставка способности: 1000 процентов/месяц
Подробное описание продукта
Стандарт соответствует: Продукция, предназначенная для использования в производственных условиях Материал: изоляционный материал (ручка) и металл (пальчик)
Время выполнения: 3 рабочих дня Приложение: для проверки доступности к опасным частям
Тип: Зонд доступа Двигатель: 0N-50N
Выделить:

30±0.2 Jointed Point Test Finger Probe

,

80±0.2 Length Standard Test Finger

,

180±0.2 Fingertip to Baffle Jointed Test Finger

Insulating Material Standard Test Finger for Accessibility Test Thruster 0N-50N
Standard Test Finger for Accessibility Test
Introduction
The Standard Test Finger, also known as jointed test finger or test probe B, simulates human fingers to verify accessibility to hazardous parts in electrical and electronic devices. This essential testing tool is widely referenced in standards including IEC60335-1, IEC62368-1, and IEC60598-1.
Designed in strict compliance with IEC61032 Figure 2, the probe features an insulating handle and metal finger. The built-in 0-50N thruster accommodates required test forces of 10N and 30N. An integrated wire connects to an electrical indicator to detect accessibility of hazardous live parts.
Specification
Model PG-TPB
Jointed point size 1 30±0.2
Jointed point size 2 60±0.2
Length of finger 80±0.2
Fingertip to baffle size 180±0.2
Fingertip taper fillet S4±0.05
Diameter of finger Ф12 0 -0.05
Diameter of baffle Ф75±0.2
Thickness of baffle 5±0.5
A-A section diameter Ф50
A-A section width Ф20±0.2
Thruster 10N optional
Standard IEC61032
Standard Test Finger Probe with 30±0.2 Jointed Point 80±0.2 Length and 180±0.2 Fingertip to Baffle for Accessibility Testing 0

Контактная информация
Pego Electronics (Yi Chun) Company Limited

Контактное лицо: Ms. Penny Peng

Телефон: +86-18979554054

Факс: 86--4008266163-29929

Оставьте вашу заявку (0 / 3000)

Другие продукты